Chroma/致茂台湾3240-Q无线射频分类特色：
 
 
 
符合成本效益的RF整合方案
 
 
客制RF隔离室和整合Tester安装
 
 
可调整测试间距至120mm
 
 
具有八个平行测试站点
 
 
支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到45x45 mm
 
 
  的定位能力
 
 
支援JEDEC和EIA料盘
 
 
3240-Q是一  特且创新、整合了射频和无线隔离室之自动分类机。此机台配置多达八个测试 站点和独立的隔离作平行测试。 3240-Q具有顺畅的自动化测试,、  的Pick & Place技术、弹 性的多测点架构、高产能和低Jam Rate等优势，适用于射频和无线晶片测试。
 
3240-Q也可依据测试需求支援各种不同类型封装的晶片。具有自动送料/分料盘设计, 3240-Q适 用于JEDEC和EIA料盘规范。另有选配的加强温控的测试能力, 可提供高达150℃之高温测试环境。