IC电磁发射测试系统
 依据IEC 61967-3的测试系统－IC扫描仪
 
  

 

 

 
 
 ICS103, FLS102, FLS103 德国LANGER公司开发和生产的三种型号高分辨率电磁兼容扫描仪，能在3线性轴（x,y,z）或者4轴（ 3线性轴：x,y,z和α旋转）运动，分辨率高达5μm，特别适合于集成电路（IC）以及手机等手持终端的电磁干扰扫描。 
 
       ICR系列近场微探头，分辨率可达65μm，频率范围覆盖10MHz－3GHz，具有多种分辨率探头。
 
 
 
 
 
 

  系统组成 
 

探头（近场微探头） 
 

  Langer EMV-Technik 生产的ICR系列近场微探头用于测量磁场或电场近场高分辨率和高灵敏度测试。该探头适用于集成电路（IC）和印刷电路板（PCB）的场测量。 
 

  2. 电磁兼容扫描仪 
 

  电磁兼容扫描仪，是一个模块化设备系统，用于小片电路表面，焊接线，引脚和纤细模块的电场和磁场近场微探针自动测量。 
 

  除了近场微探头的支架，该系统还包括一个4轴定位系统用于引导微探头，一个电机控制器通过电缆连接到设备和模块化的软件。该系统通过USB接口与PC和频谱分析仪直接相连。 
 

  组成部分： 
 
 
 1）     3线性轴（x,y,z）或者可选4轴（ 3线性轴：x,y,z和α旋转）上的推进器； 
 
 
 2）     测试板TB 1022（接地平面，受试设备（DUT）支架与连接板CB 0706）； 
 
 
 3）     电机控制器以驱动推进器； 
 
 
 4）     频谱分析仪； 
 
 
 5）     电脑用于ChipScan的控制和操作软件； 
 

软件 
 

  软件组成部件操作和控制整个测量配置。设备集中管理和控制。推进器可以用程序或图形化操纵杆进行控制。交互模式下执行测量算法，并且测量结果用三维图形显示。测量数据可以导出，便于应用。 
 

  测量算法是基于用户生成的自由可编程扫描的脚本。 
 

  配置测量算法是： 
 

   －点扫描（ptp扫描）； 
 

   －线扫描（连续扫描）； 
 

   －表面扫描； 
 

   －体积扫描； 
 
 
 
 
  
 
 
  
 
 
 
 
  
 
 
  
 
 
 
 
 
 
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