Chroma/致茂台湾7505-K007光学量测系统主要特色：
 
 
 
适用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度检测
 
 
使用3D光学探头，进行非破坏性、快速表面厚度量测与分析
 
 
使用陶瓷吸附平台，可将待测物吸附于平台上使表面平整，亦不对待测物造成皱褶或破损
 
 
3D厚度量测范围大
 
 
可量测透明材质
 
 
高静态量测重复精度
 
 
高动态量测重复精度
 
 
具备脚本功能可进行自动量测
 
 

  
 
 
Chroma 7505-K007薄膜厚度自动光学检测系统主要整合3D光学探头，进行非破坏性、快速表面厚度量测与分析，适用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度检测。同时配备陶瓷吸附平台，可将待测物吸附于平台上使表面平整，亦不对待测物造成皱褶或破损，Chroma/致茂台湾7505-K007光学量测系统3D厚度量测范围大、设备静态重复精度高与设备动态重复精度高，具备Recipe功能可进行自动量测，此外系统亦提供检测数据资料的存档功能，供后续操作人员处理分析使用。
 
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 Model Description 询价 
  
 
 
 
  
 
  
 
   
7505-K007
 
   
薄膜厚度自动光学量测系统