XF 1近场探头组  
频率范围30MHz ～ 6GHz
 
 
 
 
 
 
 
  

 

 
 
 XF1 近场探头组 
 

  频率范围30MHz ～ 6GHz 
 

  由4个磁场探头和1个电场探头组成 
 

  磁场探头 XF-R 400-1，XF-R 3 – 1，XF-B 3 – 1，XF-U 2,5 - 1 
 

  电场探头 XF-E 10，含SMA-SMA电缆 
 
 
 
 
 近场探头组XF 1各探棒介绍 
 
 
 
 
  
 
   
 
    
 
     

       特  性 
     
 
 
    
 
     

       说  明 
     
 
 
    
 
     

       类  型 
     
 
 
   
 
   
 
    
 
 
 
 
    
 
     

       XF-R 400 – 1：直径约25mm，高灵敏度，低分辨率，可以距离被测物10cm使用，检测场的分布，用于磁场源定位，分析干扰源。 
     
 
     

       频率范围 30 MHz－6 GHz。 
     
 
     

       直径约25mm。 
     
 
 
    
 
 
 
 
   
 
   
 
    
 
 
 
 
    
 
     

       XF-R 3 – 1：探头尺寸小，分辩率为毫米级。 
     
 
     

       在布线、IC管脚、旁路电容及EMC元件等区域，通过移动探头，可以检测磁场的分布和方向。 
     
 
     

       频率范围30MHz-6GHz。 
     
 
     

       分辨率约1 mm。 
     
 
 
    
 
     
 
     
 
 
   
 
   
 
    
 
     
 
     
 
 
    
 
     

       RF-B 3-1：用于检测扁平单元表面垂直发射的磁场。 
     
 
     

       对于PCB有些有遮挡部分的电路，可能无法用XF-R 3 – 1测量场方向，这时可以使用RF-B3-1来测量。 
     
 
     

       频率范围30MHz－6GHz，分辨率约2mm。 
     
 
 
    
 
     
 
     
 
 
   
 
   
 
    
 
 
 
 
    
 
     

       XF-U 2,5-1：用于有选择性地检测细小布线、元件连接处、电容器、IC管脚等的电流频谱。探头顶端有1个约0.5mm宽的磁场敏感的缺口，测试时将这个缺口放在布线、IC或电容器的连接点上。 
     
 
     

       频率范围30MHz-6GHz，分辨率约0.5mm。 
     
 
 
    
 
     
 
     
 
 
   
 
   
 
    
 
 
 
 
    
 
     

       XF-E 10：探头的  仅有0.5 mm宽，用于测试信号线在其表面发射的电场。内部的屏蔽设计，能防止邻近导线对测试结果的影响，能对每根导线进行单独测量。 
     
 
     

       频率范围30MHz-6GHz，分辨率约0.2mm。 
     
 
 
    
 
     
 
     
 
 
   
 
  
 
 
 
 

 

 
 

 
 

 

 
 

 
 

 

 

  德国LANGER EMV-Technik公司专门为近场测试设计的探头，电磁兼容工程师  的 基本工具，用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况： 
 
 
 
 
  

    多达19个各种形状的探头，可以完成几乎所有的电磁场测试任务； 
  
 
 
 
 
  

    多种分辨率的探头，实现从粗略定位到精细定位 
  
 
 
 
 
  

       高性能； 
  
 
 
 
 
  

    频率范围覆盖100kHz－10GHz； 
  
 
 
 
 
  

    适用于检查机箱泄漏、PCB内部电磁场分布、电缆上的电磁场分布等； 
  
 
 
 
 
  

    使用简单，携带方便。 
  
 
 
 

  近场探头的用途： 
 
 
 
 
  

    主要应用于查找干扰源，判定干扰产生的原因。 
  
 
 
 
 
  

    可以检测器件或者是表面的磁场方向及强度。 
  
 
 
 
 
  

    可以检测磁场耦合的通道，从而调整连接器或者是显示器位置 
  
 
 
 
 
  

    可以检测PCB附近的磁场环境情况 
  
 
 
 
       为了降低干扰，寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的，通过近场测量可以很方便的实现定位的功能，甚至可以  到IC引脚以及具体的走线。
 
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