晶振测试仪GDS-80H基本介绍 
 
 
 晶振测试仪GDS-80 
 系列是性价比的晶振测试系统，采用网络分析技术，实现智能化测量，符合IEC-444 
 标准。测量频率范围10KHz-200KHz,1MHz-200MHz 
 ，附USB 
 接口进行数据通迅。 
 
 
 晶振测试仪GDS-80H性能特点 
 
 
 晶振测试仪GDS-80系列采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能，负载电容在1-100P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能网络分析技术运算克服了市场上晶振测试设备使用实体电容法测试精度差，无法测试电参数的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得轻松。 
 
 
 <="" alt="插件测试座3" src="https://image.cn.made-in-china.com/prod/698-77656654.jpg" tempid="77656654" srcid="bnXmWkoMEBHe" width="698px" height="930px" /><="" alt="贴片测试座1" src="https://image.cn.made-in-china.com/prod/698-77656664.jpg" tempid="77656664" srcid="bQXEhMeofKDq" width="698px" height="930px" /> 
 
 
 晶振测试仪GDS-80H技术参数 
 
 
 
 
  
中心频率范围： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意设定
 
  
扫描范围：±1000ppm（默认±400ppm）  
 
  
负载电容：1-100P 任意设定
 
  
串联谐振频率Fs测量范围：±1000ppm（默认±400ppm）  测量精度：±5ppm
 
  
串联谐振电阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）
 
 
 
 
10KHz-200KHz：10K-300K  （2±10%*R KΩ）
 
 
 
  
负载电容CL测量范围：1-200PF
 
  
时基误差：±1ppm 
 
  
负载谐振频率FL测量精度：±5ppm+时基误差+0.5Pf*频率牵引力Ts
 
  
配件：插件式100欧π网络测试座（标配），贴片式100欧π网络测试座（选配），插件式表晶测试座（选配），贴片式表晶测试座（选配），2520/3225/5032/7050贴片晶振适配套件（选配），通信软件（仅GDS-80P/S）。
 
 
 
 
 
 晶振测试仪GDS-80H使用说明 
 
 
 相关测量方法及标准如下： 
 
 
 SJ/T 10638-1995 《石英晶体振荡器测试方法》 
 
 
 GB 12274-1990 《石英晶体振荡器总规范》 
 
 
 GB/T 12274.1-2012 《有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分：总规范》 
 
 
 -tance of quartz crystal uNIts by zero phase technique in aπ-network [S]. 
 
 
 GB/T 12273-1996石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 
 
 
 SJ/T 11210-1999石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 
 
 
 晶振测试仪GDS-80H采购须知 
 

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