.   台式寿命测量系统，用于在不同准备阶段用手动操作表征各种不同硅样品。手动操作的Z轴可以选择厚达156毫米的砖块。结果可视化的标准软件。,eitherforwaferswithoutheightadjustmentpossibility,包含附加的电阻率测量选项。仅用于硅的电阻率测量，无论是用于无高度调整的晶圆，还是用于砖块。这两个选项中的一个必须预先定义。AdvantagesTabletopunitforsinglepointmeasurementsofcarrierlifetime,multi-ormono-crystallinesiliconatdifferentpreparationstages,,,witheasytohandleheightadjustment优点台式单元，用于单点测量载流子寿命，不同制备阶段的多晶硅或单晶硅，从成长到最终器件。体积小，成本低，易于使用。在小型PC或笔记本上附带一个基本软件，用于结果可视化。适用于砖块，容易处理高度调整。