二手激光椭偏仪（LE-103PV）/瑟米莱伯二手椭偏仪
二手硅晶电池方块电阻测试 / 二手激光椭偏仪（LE-103PV）/ 瑟米莱伯二手椭偏仪


LE-103PV激光型椭偏仪基于椭圆偏振测试技术，通过测试线偏振光经过样品反射后偏振态振幅和相位的改变，建立样品相应光学模型，计算出薄膜的厚度、折射率和消光系数。



LE-103PV是Semilab针对光伏市场推出的一款   、高集成度的革新型产品，主要应用于测试具有绒面结构的晶体硅减反射膜的厚度和光学特性。测试软件操作简单、界面友好、所使用的光学模型与Semilab全光谱椭偏仪丰富的数据库相兼容，方便用户根据实际测试需求建立专业的测试菜单。
产品特点
可测量减反射膜厚度、折射率和消光系数等光学特性
稳定、可自动校准的集成光路
优化设计的156mm多晶和单晶测试平台，方便用户转换单晶和多晶测量
自动变换入射角的设计提高了测试精度，并可实现表面特征雾度（Haze）的测试
采用旋转补偿器测量Psi（0～90°）和Delta（0～360°），可提供  的测量灵敏度，同时可计算由粗糙表面引起的退偏系数
聚焦微光斑系统优化了反射信号的采集
可集成到在线测量系统，实现快速的在线监控
测试软件兼容PVECS
主要应用
太阳能电池片减反射膜的厚度、折射率和消光系数测试
二氧化硅等介质膜的厚度、折射率和消光系数测试
透明材料的光度学测试
主要技术指标
激光波长：        632.8nm He-Ne激光器
测量时间：        100ms-2sec
膜厚测量范围：    2nm-6000nm（基于SiO2）
厚度测试精度：   0.01nm @120nm SiO2 on Si
折射率测试精度：0.0005 @120nm SiO2 on Si

产品质量保证书、出厂效证报告及中文操作说明书各一份
壹年内免费维修，整机终身服务！