布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的全球   ，服务于科研和生产领域。新一代白光干涉仪ContourGT系列结合了  的64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪（WLI）硬件和    的操作简易性，是历年来来   的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界  的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中， 广泛使用和 直观的3D表面计量平台。 
 

    
 

  应用： 
 

      对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等，提供全方位非接触式测量方案，样品从小至微米级别的微机电器件（MEMS），大到整个引擎部件，都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等  数据 
 

  特征： 
 

  业界  的垂直分辨率，  大的测量性能； 
 

  0.5~200倍的放大倍率； 
 

  任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程； 
 

  高分辨率摄像头； 
 

    
 

   测量硬件的  设计，增强生产环境中的可靠性和重复性； 
 

  较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力 
 

  专利的自动校准能力； 
 

    
 

   多核处理器下运行的Vision64软件，大大提高三维表面测量和分析速度 
 

  数据处理速度提高几十倍； 
 

  分析速度提高十倍； 
 

  无以伦比的大量数据无缝拼接能力； 
 

    
 

    高度直观的用户界面，拥有业界  的实用性，操作简便和分析功能强大 
 

  优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程； 
 

  特的可视化操作工具； 
 

  可自行设置数据输出的界面；