国产x射线荧光光谱分析仪属于  的分析检测仪器,天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关  的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的EDX3600K型国产x射线荧光光谱分析仪。EDX3600K国产x射线荧光光谱分析仪  的亮点在于它大 窗  口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔，产品通过了江苏省计量科学研究院的检测，并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际    。性能优势：1.  能量分辨率，轻元素检测效果  使用大面积 窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率  达到139eV，各项指标      。SDD探测器具有良好的能量线性、良好的能量分辨率；对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。2.测试精度  ，检出限 低①专业化的样品腔设计，带可调速的自旋样品腔，能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响，提高样品的测试精度。②采用超小超真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。3.分析速度  ，从  秒即可得到定性定量结果采用自主研发的数字多道技术，其  线性计数率可达100kcps，可以 加快速的分析，从  秒就可以得出定性定量结果，设计成高计数率，大大提高了设备的稳定性。4.一键式智能化操作专业软件，  的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，使操作简易，对操作人员限制小的特点。5.强大的自动化功能①自动化程度高，具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。②采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。8.三重  防护功能三重  防护功能，自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护  罩。国产x射线荧光光谱分析仪edx3600k仪器配置： 窗电制冷SDD探测器自旋式样品腔    窗X光管信噪比增强器SNE超近光路增强系统可自动开启的测试盖自动切换型准直器和滤光片真空腔体自动稳谱装置90mm×70mm的液晶屏   的数字多道技术多变量非线性回归程序相互独立的基体效应校正模型国产x射线荧光光谱分析仪edx3600k技术参数：X射线源：50KV、1mA样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm分析方法：能量色散X荧光分析方法测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到 （U）]之间的元素均可测量检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素含量范围：ppm～99.99%检测时间：10秒以上检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末探测器及分辨率：超大  的SDD探测器，分辨率为144±5eV,可选配极速探测器  至125eV激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择摄像头：高清摄像头测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换自旋装置：可调速的自旋装置检出限：对样品中的大多数元素来说，  检出限达5～500ppm真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率测试台：360°电动旋转式保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成样品放置：  的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG操作环境湿度：≤90%操作环境温度：15℃～30℃国产x射线荧光光谱分析仪edx3600k软件优势：采用公司  的能谱EDXRF软件，  的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面 加广泛国产x射线荧光光谱分析仪应用领域：专为粉未冶炼行业研发的一款  设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。