商标 | Skyray |
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型号 | Explorer7000 |
规格 | Sdd |
包装 | 工具箱 |
产量 | 500 |
是否有现货 | 是 |
品牌 | 其它 |
加工定制 | 否 |
类型 | 矿石元素分析仪器 |
元素 | 金属元素分析仪 |
测试范围 | 501ppm~99.9% |
测量时间 | 15秒 |
测量精度 | 0.05 |
电源电压 | 7.6V |
适用范围 | 矿石元素含量现场测试 |
型号 | Explorer7000 |
规格 | Sdd |
商标 | Skyray |
包装 | 工具箱 |
手持式矿石分析仪 X荧光分析仪 便携式矿石分析仪基本介绍天瑞仪器全新一代 手持式矿石分析仪--探索者EXPLORER7000 X荧光分析仪再次带来了一场分析领域。 便携式矿石分析仪EXPLORER7000引入数字多道技术,使检出限低,稳定性高,适用面广,性能媲美台式机;小巧便携的体积在探矿、找矿以及各类地质矿样多元素检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用,使探矿工作简单、轻松。手持式矿石分析仪 X荧光分析仪 便携式矿石分析仪性能特点充分挖掘矿山价值
高清摄像头,可对被检测的矿脉或矿点部位进行直观的观察,并对开采过程进行 管理和控制,随时检测矿石品位。
对选矿过程中原矿、精矿和尾矿等进行 快速分析,为矿石品位的测定、矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据。
环境监控
对开采矿山周围土壤中的重金属进行监测和检测,评估矿山环境的修复情况,监测好矿山周边的环境。 地矿行业应用优势
个性化定制工作模式
多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加,根据客户需求定制工作模式。
准确界定矿山边界
内置GPS功能,在野外可随时搜索卫星信号,在测试时可随时记录测量的经纬度、海拔高度,确定取样点的地理位置信息,并随测试报告同时保存。
获得的坐标分析数据可绘制成矿山矿石分布图,从而快速普查大范围矿区,准确掌握矿脉走向,界定矿山边界,做到优先开采富矿区,大大提高生产效率。
内置蓝牙功能,配置蓝牙打印机后,可实现重点矿区原位测试的“边测边打”功能。手持式矿石分析仪 X荧光分析仪 便携式矿石分析仪技术参数一. 技术指标:
1 分析元素范围:Mg-U
2 测量精度:0.05%(含量大于96%的样品)
3 微型光管功率:4W
4 探测器能量分辨率 可达:125eV
5 数字多道分析器:4096道
二. 工作环境要求:
1 环境温度要求:温度-20℃~50℃
2 环境相对湿度:<90%
3 工作电源:电池DC 7.4V; 适配器(skyray)输入AC110-220V
4 周围不能有强电磁干扰。
六性能:便捷的操作
重量轻,体积小,人体工程学把手设计,配有专用仪器套,易抓握,野外使用方便。
270°可旋转5寸高清屏,支持多点操控,任何光线下都能清晰显示。
密封式一体设计,具备防水防尘功能,可在恶劣环境下连续使用。
无需制备样品,可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试,也能使用测试座对样品进行较长时间的 测试。
性能
无损快速检测,对准即测,一秒可报结果。性能堪比台式机,检测效果又快又准。
同时快检测钛、钒、铬、锰、铁、镍、铜、锌、 、锗、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、铟、锡、锑、铪、钽、钨、铼、铂、金、铅、铋、镁、铝、硅、磷、硫元素,并且可以根据客户需求进行定制再增加元素。
超近光路设计,仪器无需充氦气,可检测从Mg开始的轻元素,完全可以满足特定用户的需求。
强劲的电力
选配超大27000mAh锂电池,续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器,保证电力供应。
内置记忆电池,换电池不断电。
的配置
微型光管、Fast-SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四核心技术的引入,使其具有台式相近的测试精度。
采用高主频及大内存,超大存储空间,可海量存储数据。全新研发的数字多道技术,保证每秒有效采谱计数可达500kcps
准直滤波系统,其组合达到极限12组,满足客户的不同条件下的检测需求。
内置800万像素高清晰摄像头,随时观察样品测试位置,使测量 。
的防护
智能三色预警系统:LED三色长灯带设计,360度无死角显示。
通电开机时绿灯亮,测试红灯闪烁,设备故障黄色灯闪烁,仪器状态,一目了然。
三重 防护功能:
a:自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏。
b:采用加厚防护测试壁,有效防止散射。
c:配送防护 罩,防周边轻基体散射。
联动锁装置,当软件无法控制关闭,轻轻一按,第一时间保护您的 ,守护最后关卡。
智能的软件
EXPLORER7000便携式X荧光矿石分析仪配有专门针对矿石行业的专业应用软件,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、操作简易等特点。
全新的智能软件,一键智能操作,采用双模设计(用户模式和专家模式)。用户模式一键识别矿样类别;专家模式可进行增加元素,增加特定曲线等深入分析操作。
内置强度校正方法,校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
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