Chroma/致茂台湾3110-FT三温测试分类机特色：
 
 
 
可设定温度范围 -40℃~125℃
 
 
适用于 FT测试
 
 
支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到 45x45 mm
 
 
控制下压触力在1到10 kg (Optional)
 
 
具有4个产品分类料盘
 
 
支援远端控制操作
 
 
具有测试良率控制功能
 
 
具有连续自动重测功能
 
 
具有即时监控产品分类功能
 
 
3110-FT为CHROMA全新开发，适用于Final test工 程产品特性及测试开发用途之Pick & Place测试分类机。 3110-FT支援多种晶片测试, 可支援的晶片 尺寸从3x3 mm到45x45 mm。 3110-FT亦可加装 远端监控功能，Chroma/致茂台湾3110-FT三温测试分类机可让操作者在任何地点透过网路 操作以增加设备使用率。配有2个自动分料盘及 2个手动分料盘，在仅1.4 m²的空间发挥  的IC 分料能力以节省成本与时间。
 
3110-FT可支援大部分产业的标准通信介面和提供不同种类的tester的对接方式。可  控制温度范围从-40℃ 到 125℃。具有易于操作的软体界面以及可快速更换待测产品之设计, 将可大幅缩短停机时间而进一步提高使用效率及产能。
 

  
 
取得产品价格. 点选您有兴趣的产品并加入询价车, 简单2步骤将询价单寄给我们, 或继续回到产品页选取更多产品.