规格 | 供货量(台) |
上照式SDD | 20 |
商标 | Skyray |
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型号 | Edx2000 |
规格 | 上照式 |
包装 | 木箱包装运输 |
是否有现货 | 是 |
类别 | X射线测厚仪 |
测量产品 | 金属镀层 |
显示方式 | 全中文液晶 |
型号 | Edx2000 |
规格 | 上照式 |
商标 | Skyray |
包装 | 木箱包装运输 |
准直孔 | 0.1mm |
探测器 | Fast sdd |
天瑞X荧光光谱镀层测厚仪基本介绍EDX2000A能量色散X荧光镀层测厚仪,这台全自动微区光谱膜厚测试仪,无论平面、凹凸、拐角还是弧面,任何简单或复杂的样品,它都能迅速 地完成对焦分析。在半导体、芯片及PCB等行业,它满足了非接触微区镀层厚度测试的严格需求。天瑞X荧光光谱镀层测厚仪性能特点通过自动化的三维移动,X轴、Y轴、Z轴的协同运作,配合双激光定位和保护系统,使得测试 。无论在电镀行业、电子通讯,还是 新能源、五金卫浴,甚至是电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等,其应用领域广泛。
高硬件配置确保了性能,Fast-SDD探测器的129eV分辨率,能 解析每个元素的特征信号。对于复杂底材和多层复杂镀层,它同样能轻松应对。大功率X光管则提供了稳定的信号输出和激发,降低了仪器故障率。
X、Y、Z轴的高精度自动化联动,使得对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位 迅速。上照式设计使得它能适应异型微小样品的测试。相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。 可变焦高精摄像头与距离补正系统的结合,满足了微小产品、台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台实现了微小密集型的多点测试,大大提高了测样效率。
此外,它还自带数据校对系统,确保测试数据的准确性。人性化的软件界面让操作便捷,曲线上的中文备注让操作直观。仪器硬件功能的实时监控,让使用放心。天瑞X荧光光谱镀层测厚仪技术参数镀层可测范围:从Li到U之间的元素,元素分析可以从Al到U之间,配置FAST SDD探测器,分辨率高同时分析24种元素,5层镀层,可以分析0.005微米到50微米之间的金属镀层厚度镀层分析精度RSD小于3%,检测时间10秒左右,多次测量含量重复性达0.5%, 测试面积0.02平方毫米天瑞X荧光光谱镀层测厚仪使用说明
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