X射线镀层测厚仪是天瑞仪器集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
 
 
天瑞仪器X射线镀层测厚仪thick800a详细配置信息： 一、硬件：主机壹台，含下列主要部件： (1) X光管 (2) si-pin 探测器 (3) 信号检测电子电路 (4) 高精度二维移动平台 (5) 高清晰摄像头 (6) 高低压 (7) 开放式样品腔 (8）双激光定位装置 (9) 铅玻璃屏蔽罩 二、软件及其他：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0 2.1 、各一台 （品牌，液晶）、（品牌，彩色喷墨） 2.2 资料：器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。 2.3 标准附件 准直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可选其中一种） （已内置于仪器中） 技术指标： 1.1 分析元素范围：K-U 1.2 同时可分析多达5层镀层 1.3 分析厚度检出限最高达0.01μm 1.4 多次测量重复性最高可达0.01μm 1.5 定位精度：0.1mm 1.6 测量时间：5s-300s 1.7 计数率：0-8000cps 二.工作环境要求： 2.1 环境温度要求：15℃-30℃ 2.2 环境相对湿度：<70% 2.3 工作：交流220±5V 2.4 周围不能有强电磁干扰。