X荧光矿石分析仪主要特征是利？智能真空系统，可对Na、Mg、AI、Si、P、S、CI等轻元素具有良好的激发效果，利？XRF技术可对？含量的K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Mo、Zr、Ba等重点关注的元素进？  分析，真正为矿产、？属加？及？机？？属材料？产企业的产品质量控制提供服务，？？提？检测效率和节省检测成本。
 同时，23位的机械？臂可以实现？通量样品顺序测试，放？样品后？键检测，实现？？值守测试。
 
 
产品名称：X荧光光谱仪
 测量元素范围：从钠（Na）到 （U）
 元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
 同时分析元素：一次性可测几十种元素
 测量时间：60秒-200秒
 探测器能量分辨率为：125eV
 管压：5KV-50KV
 管流：50μA-1000μA
 测量对象状态：粉末、固体、液体
 输入电压：AC 110V/220V
 环境温度：15℃-30℃
 环境湿度：35%-70%
 外形尺寸：660mm×510mm×350mm
 样品腔体积：Φ320mm×100mm
 重量：65Kg
 
 数字多道技术，让测试快，计数率达到100000CPS，精度高。在合金检测中效果好
 FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
 高信噪比的电子线路单元
 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制
 内置高清晰摄像头
 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然