Chroma/致茂台湾3360VLSI 测试系统特色：
 
 
 
50 MHz 测试频率
 
 
608 个 I/O 通道
 
 
8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体
 
 
弹性化硬体结构 (互换式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
 
 
平行测试可达 32 devices
 
 
Real Parallel Trim/Match 功能
 
 
直接装设 SC312, TS670 针测卡
 
 
测试程式/pattern 转换器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
 
 
Analog PE card 选配 (16 ~24 bits)
 
 
SCAN test 选配 (512M)
 
 
ALPG test 选配供记忆体用
 
 
STDF 工具支援
 
 
人性化 Windows XP 操作环境
 
 
CRAFT C/C++ 程式语言
 
 
即时pattern编辑器，含Fail pin/address显示
 
 
多样化的测试解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.
 
 
Most Flexible Configuration for Various Devices (Logic, LCD, LED, ADDA, ALPG, SCAN, Power and etc.)
 

  
 
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