Chroma/致茂台湾3380-D测试系统特色：
 
 
 
100 MHz 测试频率
 
 
256 logic I/O pins ( 最高可至 576 pins)
 
 
平行测试可达 256 devices
 
 
32/64/128 M Pattern 记忆体
 
 
多样弹性 VI 电源
 
 
弹性化硬体结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
 
 
Real parallel Trim/Match 功能
 
 
时序频率测试单位 (TFMU)
 
 
AD/DA 功能卡 选配 (16/24 bits)
 
 
SCAN 测试功能 选配 (1G/Board)
 
 
ALPG 测试 选配供记忆体IC用
 
 
STDF 工具支援
 
 
测试程式/pattern 转换器(J750, D10, V50, E320, SC312, V7,TRI-6020, ITS9K)
 
 
人性化 Window 7操作环境
 
 
CRAFT C/C++ 程式语言
 
 
程式语言同3360P & 3360
 
 
Direct mount 治具可相容于3360P probe-Card
 
 
Cable mount 治具可相容于3360D & 3360P
 
 
为因应未来IC晶片须具  速度及更多脚位及功能更复杂的IC晶片，Chroma新一代VLSI测试机 3380D/380P/3380除采用 弹性架构外，整合密度  且功能   。 3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能 (High Parallel Test)，除内建  的4-wire功能高密度IC电源(VI source) 外， 具备any-pins-to-any-site高同测功能( 256 I/O pin可 同测256个测试晶片)，以因应未来IC晶片  的测试需求。
 
3380D/380P/3380 系列同时具备机框式直流电源供应的小型/低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。
 
Chroma/致茂台湾3380-D测试系统3380D VLSI 测试系统非常适合应用于IoT相关 的晶片测试，尤其是一些具成本压力的元件 如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI 测试系统 3380D/3380P/3380 系列开发至今，已在大中华 地区被广泛的采用。
 
满足晶片测试的各种应用范围
 
Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match, and etc.
 

  
 
相容性治具解决方案
 
3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP
 
3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card